| 摘要 |
<P>L'invention concerne un système de détermination de l'écart de position d'au moins un instrument automatique (102, 104, 106, 108) de marquage par rapport à une position nominale. Il comprend: n support d'impression (30); et une configuration de calibrage (402, 404, 406, 408) de l'écart de position qui comprend un réseau d'indicateurs sensiblement diagonaux formés sur le support d'impression (30) par l'instrument automatique (102, 104, 106, 108) de marquage au moins unique. L'invention concerne aussi un procédé et un appareil correspondants.</P> |
