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发明名称
Phasenplattenentwurf für das Abgleichen durch Referenzmusterabtastung von Mehrfach-Farbstrahlkassetten
摘要
申请公布号
DE69405039(D1)
申请公布日期
1997.09.25
申请号
DE19946005039
申请日期
1994.04.21
申请人
HEWLETT-PACKARD CO., PALO ALTO, CALIF., US
发明人
COBBS, KEITH E., SAN DIEGO, CALIFORNIA 92116, US
分类号
B41J2/01;B41J2/125;B41J2/21;B41J11/00;B41J11/46;B41J21/16;B41J25/34;(IPC1-7):B41J25/34
主分类号
B41J2/01
代理机构
代理人
主权项
地址
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