| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING THE MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH09245498(A) |
申请公布日期 |
1997.09.19 |
| 申请号 |
JP19960073226 |
申请日期 |
1996.03.04 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
SAITO TETSUYA;TAKAHASHI OSAMU |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C11/401;G11C11/407;G11C29/00;G11C29/12;H01L21/66;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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