| 摘要 |
<p>Da beim Versuch, einen einzelnen Die (13) von der Montageebene (17) des Substrates (12) eines Multichip-Moduls oder Hybrid-Moduls (11) zu entfernen, indem sein thermisch beeinflußbarer Kleber mittels eines Warmluftstromes oder mittels eines Wärmekontaktstempels erweicht wird, auch die mechanische Befestigung sowie die Zuverlässigkeit der elektrischen Kontaktierung benachbarter Dies (13) beeinträchtigt und die Keramikstruktur des Substrates (12) gefährdet ist, wird erfindungsgemäß der unmittelbare Montageort (19) des abzunehmenden Dies (13) direkt erwärmt. Dazu erfolgt eine elektrische Widerstands-Beheizung mittels eines Erwärmungs-Stromes (i), der von zwei - vorzugsweise einander gegenüberliegenden - Seitenrändern (16) des abzulösenden Dies (13) aus über Sonden (22) entweder in die vorstehenden Wülste (15) eines Leitklebers oder aber in neben dem Die (13) vorstehenden Kontaktflächen (18) einer Metallisierung (20) des Montageortes (19) eingespeist wird. Bei der zweiten Alternative kann die Metallisierung (20) den Montageort (19) vollflächig überdecken; vorzugsweise weist sie jedoch eine Mäanderstruktur (21) zur Stromwärmeführung über die gesamte Fläche des Montageortes (19) auf. <IMAGE></p> |
