发明名称 Bare die testing
摘要
申请公布号 GB2279805(B) 申请公布日期 1997.09.17
申请号 GB19930013721 申请日期 1993.07.02
申请人 * PLESSEY SEMICONDUCTORS LIMITED 发明人 DAVID JOHN * PEDDER
分类号 G01R31/26;G01R1/073;G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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