| 发明名称 |
TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY AND SEMICONDUCTOR MEMORY USED IN THE METHOD, AND TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH09231792(A) |
申请公布日期 |
1997.09.05 |
| 申请号 |
JP19960042916 |
申请日期 |
1996.02.29 |
| 申请人 |
TOSHIBA MICROELECTRON CORP;TOSHIBA CORP |
发明人 |
IYAMA YUMIKO;BANBA HIRONORI |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C29/00;H01L21/66;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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