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发明名称 IC TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH09230003(A) 申请公布日期 1997.09.05
申请号 JP19960057038 申请日期 1996.02.21
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 IWAGAMI KOYO
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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