发明名称 |
光电二极管及其制作方法 |
摘要 |
在光吸收元件和半导体器件制作方法中,通过从光吸收表面提供N<SUP>+</SUP>型扩散层,N<SUP>-</SUP>型外延层、P<SUP>-</SUP>型外延层、P<SUP>+</SUP>型淀积层以及P型Si来构造光电二极管的内部结构形成低密度PN结,在光电二极管反偏时产生的空位层将被加宽,光吸收密度和频率特性也将被改进。而且,由于由P<SUP>-</SUP>外延层进行了双极型元件的隔离,可改进P<SUP>-</SUP>型外延生长时密度控制的效率。 |
申请公布号 |
CN1158503A |
申请公布日期 |
1997.09.03 |
申请号 |
CN96117281.9 |
申请日期 |
1996.12.06 |
申请人 |
索尼株式会社 |
发明人 |
荒井千広 |
分类号 |
H01L31/08;H01L31/18;G01J1/00 |
主分类号 |
H01L31/08 |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
王以平 |
主权项 |
1.一种光吸收器件,包括:第一导电类型的半导体衬底;在所述第一基底上形成的第一导电类型的第一半导体层;在所述第一半导体层上形成的第一导电类型的第二半导体层;在所述第二半导体层上形成的第二导电类型的第三半导体层;在所述第三半导体层上形成的第二导电类型的第四半导体层;以及在所述第四半导体层上形成的电极。 |
地址 |
日本东京 |