发明名称 |
集成电路中介电层的制造方法 |
摘要 |
一种集成电路中介电层的制造方法,其主要步骤如下:首先,沉积一层金属导电层,并利用活性离子式电浆蚀刻技术制定所述金属导电层的图案,使金属导电层图案并与半导体元件电性接触,然后利用等离子增强式化学沉积法沉积一介电层,其为介电层底层,最后以热解化学气相沉积法,利用四乙氧基硅烷和臭氧气体在介电层底层上沉积形成另一介电层,此介电层厚度均匀且可完全填满所述金属导电层图案之间的空隙,以达到平坦化效果。 |
申请公布号 |
CN1157483A |
申请公布日期 |
1997.08.20 |
申请号 |
CN96101197.1 |
申请日期 |
1996.02.14 |
申请人 |
台湾茂矽电子股份有限公司 |
发明人 |
陈光钊;涂玉堂 |
分类号 |
H01L21/762;H01L21/70;H01L21/31 |
主分类号 |
H01L21/762 |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
徐娴 |
主权项 |
1、一种集成电路中介电层的制造方法,其步骤包 括: 在一个半导体基板上形成半导体元件和金属导电层 图案; 然后,形成一介电层底层于所述金属导电层图案上 和所述半导体基板其它区域;其中介电层底层的制造条 件如下:利用等离子增强式化学气相沉积法沉积,其反 应物质为氧气加上四乙氧基硅烷,沉积物以PE-TE OS表示,沉积功率约为100瓦特,沉积完成PE- TEOS介电层底层后,始完成介电层底层的制作; 在介电层底层上,再沉积一伴有臭氧O<sub>3</sub>气体的T EOS形成可流动性质的二氧化硅介电层,完全填满所 述金属导电层图案之间的空隙。 |
地址 |
中国台湾 |