| 发明名称 |
MATERIAL TEST DEVICE, MATERIAL TEST APPLIANCE AND MATERIAL TEST METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH09218142(A) |
申请公布日期 |
1997.08.19 |
| 申请号 |
JP19960022860 |
申请日期 |
1996.02.08 |
| 申请人 |
SEIKO INSTR INC;SATO KAZUO;SHIKIDA MITSUHIRO |
发明人 |
SATO KAZUO;SHIKIDA MITSUHIRO |
| 分类号 |
B81B3/00;B81C99/00;G01N3/00;G01N3/02;G01N3/08;G01N3/20;(IPC1-7):G01N3/20 |
主分类号 |
B81B3/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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