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发明名称 Prüfmustererzeugungseinrichtung für sequentielle Logikschaltung einer integrierten Schaltung und Verfahren dazu
摘要
申请公布号 DE69220709(D1) 申请公布日期 1997.08.14
申请号 DE19926020709 申请日期 1992.04.14
申请人 MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD., KADOMA, OSAKA, JP 发明人 TAKEOKA, SADAMI MATSUSHITA DENKI-TERAKATA-RYO, MORIGUCHI.SHI, OSAKA, 570, JP;MOTOHARA, AKIRA, KOBE-SHI, HYOGO 659, JP
分类号 G01R31/3183;G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;(IPC1-7):G06F11/26 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
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