发明名称 | 集成电路试验处理装置的器件传送机构 | ||
摘要 | 一种IC试验处理装置的器件传送机构,包括圆环轨道转台,它具有多个槽,用来在盘形转台上以几件为单位存储器件,以及至少三个臂,其中的每个臂具有接触臂,其上带有吸力部分,在每个臂的末端以几件为单位吸住器件。可附带地提供转动存储臂,借助于设置多个臂来传送器件,所述多个臂的每个臂的末端具有槽,用来以几件为单位存储器件71。 | ||
申请公布号 | CN1156829A | 申请公布日期 | 1997.08.13 |
申请号 | CN95117241.7 | 申请日期 | 1995.09.26 |
申请人 | 株式会社爱德万测试 | 发明人 | 高桥弘行;铃木釰平 |
分类号 | G01R31/28;B65G49/07 | 主分类号 | G01R31/28 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 马浩 |
主权项 | 1.一种用于IC试验处理装置的器件传送机构,包括:在一个盘形转台(12)上设置的用来以几件为单位存储要被试验的器件(71)的多个槽(13),所述转盘(12)传送所述器件(71)到一个接触臂(14),并被设置用于从一个供给缓冲部分(40)接收所述器件(71);至少三个臂被设置,所述臂的每个具有带有吸力部分(15)的所述接触臂(14),所述吸力部分(15)在每个所述臂的末端以几件为单位吸住所述器件(71),以便从所述转台(12)以几件为单位接收来自一个供给所述器件(71)的供给缓冲部分(40)的器件(71)。 | ||
地址 | 日本东京 |