发明名称 | 测量用激光装置 | ||
摘要 | 一种测量用激光装置,它具备激光光源部和将从该激光光源部来的激光光线按规定方向照射的光学系统,把上述激光光源部设置成至少与光学系统热隔离并用光纤将上述激光光源部的激光光线引导到上述光学系统,由于使激光光源部或至少光源部的发热部与光学系统隔离,因此光学系统不受激光光源部热的影响,能够防止由热而引起的精度降低,并可以使测量用激光装置维持高精度。 | ||
申请公布号 | CN1156824A | 申请公布日期 | 1997.08.13 |
申请号 | CN96109995.X | 申请日期 | 1996.08.16 |
申请人 | 株式会社拓普康 | 发明人 | 大友文夫;小泉浩;籾内正幸;大石政裕;后藤义明 |
分类号 | G01N21/00 | 主分类号 | G01N21/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 姜郛厚;王忠忠 |
主权项 | 1.一种测量用激光装置,它具备:激光光源部、使从该激光光源部来的激光光线按规定的方向照射的光学系统、以及将上述激光光源部的激光光线引导到上述光学系统的光纤,其特征在于上述激光光源部至少与光学系统热隔离。 | ||
地址 | 日本东京都 |