发明名称 金属化的制造方法
摘要 一种金属化的制造方法,包括下列步骤:先提供一矽基底,然后在该矽基底上沈积成型一介电层。之后,在该介电层中成型一插塞。最后在该插塞上方,以 400℃-500℃的高温进行金属溅镀,成型金属层。以上述之制造方法成型金属层时,就可以使在插塞凹陷上方之每一金属层表面均平坦,有利于超大型积体电路制造厂商对堆叠介层之制作。同时,此方法并不增加任何金属化制程,甚至于可降低生产成本。
申请公布号 TW312819 申请公布日期 1997.08.11
申请号 TW085116176 申请日期 1996.12.27
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 房眉生;孙世伟;许志清;郭国运;杨明宗
分类号 H01L21/3205 主分类号 H01L21/3205
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1.一种金属化的制造方法,包括下列步骤:a.提供一矽基底,在该矽基底上具有一介电层;b.在该介电层中成型一插塞;以及c.以约400℃-500℃的高温成型金属层。2.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中步骤a中之该介电层可以是硼磷矽玻璃。3.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中步骤a中之该介电层可以是磷矽玻璃。4.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中步骤a中之该介电层可以是二氧化矽层与旋纺玻璃层的合成。5.如申请专利范围第4项所述之制造方法,其中成型该介电层之方法为电浆加强型化学气相沈积法。6.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中步骤b中之该插塞材料是钨。7.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中步骤b中之该插塞材料是铝。8.如申请专利范围第6项所述之制造方法,更包括在成型插塞前,先成型一黏着层的步骤。第一a和一b图是一般金属层间的钨插塞作法之剖面示意图。第二图是显示传统成型两层金属层后的剖面示意图。第三图是利用本发明成型两层金属层后的剖面示意图。
地址 新竹科学工业园区工业东三路三号