发明名称 |
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE WITH TEST CIRCUIT |
摘要 |
|
申请公布号 |
JPH09199673(A) |
申请公布日期 |
1997.07.31 |
申请号 |
JP19960009403 |
申请日期 |
1996.01.23 |
申请人 |
TOSHIBA CORP;TOSHIBA INF SYST JAPAN CORP |
发明人 |
YASHIRO HIROFUMI;SHIJO TAKAO |
分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/56;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):H01L27/04;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|