发明名称 Method for running self-test to detect delay faults for a digital circuit
摘要
申请公布号 EP0669577(B1) 申请公布日期 1997.07.30
申请号 EP19950102014 申请日期 1995.02.14
申请人 SIEMENS NIXDORF INFORMATIONSSYSTEME AG 发明人 VUKSIC, ANTON, DIPL.-ING.;FUCHS, KARL, DR. RER. NAT.
分类号 G06F11/27;(IPC1-7):G06F11/27 主分类号 G06F11/27
代理机构 代理人
主权项
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