测量双折射层厚度的方法及其装置

摘要

将液晶层3设在平行或正交尼科尔棱晶的两个偏振片2、6之间，并在其间设置一相移片4使第一偏振片透射方向与光轴一致，再测量第二偏振片透射光强为极限值时的旋转角度，并按相移片旋转角度计算双折射层厚度。另一方法采用了一个半波片，首先将液晶层设在光强为极限值的位置，调整两个偏振片间的半波片使第一偏振片透射方向与光轴一致，然后测量当第二偏振片透射光强为极限值时的半波片旋转角度，再根据该角度计算双折射层厚度。

主权项

1.一种测量双折射层厚度的方法，其特征在于它包括以下步骤： (a)将具有双折射层的待测物体放入组成平行尼科尔或正交尼科尔棱晶的第一和第二偏振片之间的光路中；(b)在所说第一和第二偏振片之间设置一个相移片从而使第一偏振片的透射方向与光轴一致；(c)旋转所说相移片，测量当从第二偏振片中透射出的光强度为极限值时的旋转角度；(d)根据所说相移片的旋转角度计算所说双折射层的厚度。