发明名称 | 带有检测缺陷用的强化电路的存储器 | ||
摘要 | 公开了一种用来检测存储单元中数据保存缺陷的带有强化电路的存储电路(20)。存储电路(20)包含一个连接于位线的存储单元阵列(22)、一个被连接以对存储单元进行存取的存取电路(24)和一个被连接以强化存储单元的放电电路。 | ||
申请公布号 | CN1155938A | 申请公布日期 | 1997.07.30 |
申请号 | CN95194685.4 | 申请日期 | 1995.06.16 |
申请人 | 英特尔公司 | 发明人 | E·罗森;Y·米尔斯坦 |
分类号 | G11C13/00 | 主分类号 | G11C13/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王勇;萧掬昌 |
主权项 | 1、一种存储电路,它包含:含有至少一个连接于一组位线的存储单元的存储单元阵列;被连接以存取存储单元的存取电路;被连接以借助于在被存取电路进行存取存储单元期间使位线放电而强化存储单元的放电电路。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |