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发明名称 Test circuit and process for functional testing electronic circuits
摘要
申请公布号 EP0729034(A3) 申请公布日期 1997.07.30
申请号 EP19960101352 申请日期 1996.01.31
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 NIKUTTA, WOLFGANG, DIPL.-PHYS.;VON DER ROPP, THOMAS, DR. DIPL.-PHYS.;SCHMOEKEL, HARTMUT, DIPL.-ING.;WALTER, RUDOLPH, DIPL.-ING.;KUCHINKE, GUENTHER, DIPL-ING.
分类号 G01R31/28;G06F11/273;G11C29/48;H03K19/00;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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