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发明名称 DEVICE FOR MEASURING NOISE CHARACTERISTICS OF TRANSISTORS AT MICROWAVE FREQUENCY
摘要
申请公布号 RU2085960(C1) 申请公布日期 1997.07.27
申请号 SU19925056241 申请日期 1992.07.24
申请人 GOSUDARSTVENNOE NAUCHNO-PROIZVODSTVENNOE PREDPRIYATIE "ISTOK" 发明人 BALYKO ALEKSANDR K;PCHELIN VIKTOR A;TAGER ALEKSANDR S
分类号 G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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