发明名称 Halbleiterbauelement mit Bereichen unterschiedlicher Störstellenkonzentration
摘要
申请公布号 DE3855945(D1) 申请公布日期 1997.07.24
申请号 DE19883855945 申请日期 1988.07.05
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, KAWASAKI, KANAGAWA, JP;TOSHIBA MICRO-COMPUTER ENGINEERING CORP., KAWASAKI, JP 发明人 SAWADA, SHIZUO, C/O PATENT DIVISON, K.K. TOSHIBA, MINATO-KU, TOKYO 105, JP;FUJII, SYUSO, C/O PATENT DIVISON, K.K. TOSHIBA, MINATO-KU, TOKYO 105, JP;OGIHARA, MASAKI, YOKOHAMA-SHI, JP
分类号 H01L21/8234;H01L27/105;H01L27/108;(IPC1-7):H01L27/108;H01L21/82 主分类号 H01L21/8234
代理机构 代理人
主权项
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