| 发明名称 |
TEST EQUIPMENT AND TEST METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH09189652(A) |
申请公布日期 |
1997.07.22 |
| 申请号 |
JP19960018370 |
申请日期 |
1996.01.09 |
| 申请人 |
SONY CORP;KOKI:KK |
发明人 |
TOMIZUKA KENICHI;TAKAHASHI TORU;SATO SHUICHI |
| 分类号 |
G01N3/32;G01N3/34;(IPC1-7):G01N3/32 |
主分类号 |
G01N3/32 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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