| 发明名称 |
Verfahren zur Messung der Konzentration einer Komponente in einem Probengas und Infrarot-Gasanalysator zur Durchführung des Verfahrens |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
DE4420340(C2) |
申请公布日期 |
1997.07.17 |
| 申请号 |
DE19944420340 |
申请日期 |
1994.06.10 |
| 申请人 |
HORIBA LTD., KYOTO, JP |
发明人 |
TOMITA, KATSUHIKO, KYOTO, JP |
| 分类号 |
G01J3/10;G01N21/35;H01K1/02;H01K7/00;(IPC1-7):G01N21/61;H01C7/02;H01K1/04 |
主分类号 |
G01J3/10 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
