| 发明名称 |
Detecting defects in a structure by temperature distribution measurement |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2309077(A) |
申请公布日期 |
1997.07.16 |
| 申请号 |
GB19960016322 |
申请日期 |
1996.08.02 |
| 申请人 |
* NITTO CHEMICAL INDUSTRY CO LTD |
发明人 |
KENICHIRO * YAMAZAKI;KIYOTAKA * KAWASE;TOSHIO * KOIKE;SUSUMU * HARASHIMA |
| 分类号 |
G01N25/72;G01N33/38;(IPC1-7):G01N25/72 |
主分类号 |
G01N25/72 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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