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发明名称 Method and device for testing integrated power devices
摘要
申请公布号 EP0622733(B1) 申请公布日期 1997.07.16
申请号 EP19930830186 申请日期 1993.04.30
申请人 SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.R.L. 发明人 LANZI, ADRIANO;AVENIA, GIOVANNI;PAGANI, ELIA
分类号 G01R31/26;G01R31/00;G01R31/02;G01R31/28;(IPC1-7):G06F11/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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