发明名称 PROCEDIMIENTO FOTOLITOGRAFICO.
摘要 UN PROCEDIMIENTO PARA ESTRUCTURACION EN EL CAMPO SUBMICRON ESTA CARACTERIZADO POR LOS SIGUIENTES PASOS: SE REUNE UNA CAPA FOTORESISTENTE DE UN COMPONENTE DE POLIMERO CON GRUPOS FUNCIONALES QUE ESTAN CAPACITADOS PARA UNA REACCION CON AMINAS PRIMARIAS O SECUNDARIAS Y GRUPOS IMIDOS QUE BLOQUEAN EL NITROGENO, DE UN FOTOINICIADOR LIBERADO POR LA EXPOSICION DE UN ACIDO Y DE UN DISOLVENTE APROPIADO; ENTE SE SECA; LA CAPA FOTORESISTENTE EXPUESTA SE SOMETE A UN TRATAMIENTO DE TEMPERATURA ; ESTRUCTURA FOTORESISTENTE; RATA CON UN AGENTE QUIMICO QUE CONTENGA UN AMINO PRIMARIO O SECUNDARIO; EN EL REVELADO SE GRADUA UN NIVEL DE OSCURIDAD DEFINITIVO EN UN CAMPO ENTRE 20 Y 100 NM.
申请公布号 ES2101710(T3) 申请公布日期 1997.07.16
申请号 ES19910121084T 申请日期 1991.12.09
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SEBALD, MICHAEL, DR.;BECK, JURGEN, DIPL.-CHEM.;LEUSCHNER, RAINER, DR.;SEZI, RECAI, DR.;BIRKLE, SIEGFRIED, DR.;AHNE, HELLMUT, DR.
分类号 G03F7/26;G03F7/039;G03F7/40;H01L21/027;(IPC1-7):G03F7/40 主分类号 G03F7/26
代理机构 代理人
主权项
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