集成电路器件测试处理机

摘要

一具有恒温室的IC测试处理机包括：6个行星式IC支持架71；一行星式支持架排列机构72；和一使机构72间歇转动的间歇驱动机构。每个IC支持架相对行星轴71a有4个旋转对称表面用作IC的支持部。IC支持架在机构72内环状排列并绕一太阳轴72a转动，间歇驱动机构间歇地使机构72每次转动60°，当每个支持架71沿逆时针转过一圈时也绕其自身轴转动90°，24个间歇操作后IC支持部上的IC4c回至初始位置，于是恒温室内预热的IC数目增加了，预热时间也得以延长。

主权项

1.一设有使ICs(集成电路)冷却或加温的IC恒温室的IC测试处理机，其特征在于：当K和M是大于等于2的自然数和N是一整数时，所述IC恒温室包括有：M个行星式IC支持架(71)，每个所述M个行星式支持架可围绕其自身的行星轴(71a)旋转并相对于所述行星轴(71a)具有K个旋转对称表面(S)，所述K个表面(S)是作为IC的支持部；一个能围绕一太阳轴(72a)旋转用来把所述M个行星式IC支持架(71)按相等间隔围绕所述太阳轴(72a)排列成一环状轮系的行星式支持架排列机构(72)；和一间歇地使所述行星式支持架排列机构(72)每次转过一360°/M的角度的间歇旋转驱动机构，当每个所述M个行星式IC支持架围绕所述太阳轴(72a)旋转360°时，它也围绕其自身轴(71a)旋转{N±(1/K)}×360°。