| 发明名称 | 存储器内容的测试 | ||
| 摘要 | 一种测试与一个微处理器相连的一个存储器，尤其是在智能卡中使用的存储器的方法。该方法包括：将沿着一个读路径(10)从存储器(2)输出的数据与外部产生的并经过一个端口(7)沿着一个读路径(9)传送的预先确定的数据进行比较。这种比较在一个比较装置(3)中进行，该比较装置比如可以是适合编程的微处理器。该自比较装置(3)的输出只是一个施加到端口(5)的通过/失败验证信号。保存在存储器(2)中的数据可以是永久保存的数据，诸如在一个ROM中，或者(在存储器可改变的情况下)是为了测试目的而专门写入到存储器中的。 | ||
| 申请公布号 | CN1153572A | 申请公布日期 | 1997.07.02 |
| 申请号 | CN95194105.4 | 申请日期 | 1995.07.12 |
| 申请人 | 国民西敏寺银行 | 发明人 | E·P·凯斯 |
| 分类号 | G11C29/00 | 主分类号 | G11C29/00 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王勇;王岳 |
| 主权项 | 1.一种测试在一个模块中与一个微处理器相连的存储器的内容的方法，该方法包括：向该模块输入预先确定的数据，将该模块内的数据与保存在存储器中的数据进行比较，以及通过比较根据验证该存储器内容正确与否从该模块发出一个验证输出。 | ||
| 地址 | 英国伦敦 | ||