发明名称 Fremgangsmåde til test af integrerede halvlederkredsløb,som er indloddede på kredsløbskort,og anvendelse af transistortester til denne fremgangsmåde.
摘要
申请公布号 DK0507168(T3) 申请公布日期 1997.06.23
申请号 DK19920104967T 申请日期 1992.03.23
申请人 ITA INGENIEURB RO F R TESTAUFGABEN GMBH 发明人 BUKS, MANFRED
分类号 G01R31/04;G01R31/28;G01R31/316;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/04
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利