| 发明名称 |
TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR ELEMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH09162255(A) |
申请公布日期 |
1997.06.20 |
| 申请号 |
JP19950317661 |
申请日期 |
1995.12.06 |
| 申请人 |
FUJI ELECTRIC CO LTD |
发明人 |
ASAKAWA TADASHI;MATSUSHIMA HIDENORI |
| 分类号 |
G01R31/26;H01L21/336;H01L21/66;H01L29/739;H01L29/78;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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