发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING INTERFACIAL STATE DENSITY
摘要
申请公布号 JPH09162251(A) 申请公布日期 1997.06.20
申请号 JP19950317743 申请日期 1995.12.06
申请人 HITACHI LTD;HITACHI VLSI ENG CORP 发明人 TAKAHAMA TAKASHI;SATO KAZUHIKO;NAGARA TAKAMITSU;YOSHIGAMI JIRO;OKURA OSAMU
分类号 G01N22/00;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01N22/00
代理机构 代理人
主权项
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