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发明名称 X-Y IN-CIRCUIT TASTER USING AIR PROBE
摘要
申请公布号 JPH09152469(A) 申请公布日期 1997.06.10
申请号 JP19950335965 申请日期 1995.11.29
申请人 HIOKI EE CORP 发明人 KONDO TOSHIYUKI
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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