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发明名称 TESTER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH09145792(A) 申请公布日期 1997.06.06
申请号 JP19950329649 申请日期 1995.11.24
申请人 NIPPON STEEL CORP 发明人 TAKAGI NORIYUKI
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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