Testvorrichtung zum Testen einer elektronischen Schaltungsplatine
摘要
申请公布号
DE4417580(C2)
申请公布日期
1997.06.05
申请号
DE19944417580
申请日期
1994.05.19
申请人
HEWLETT-PACKARD CO., PALO ALTO, CALIF., US
发明人
KERSCHNER, RONALD K., LOVELAND, COL., US;HEUMANN, JOHN M., LOVELAND, COL., US;MCDERMID, JOHN E., LOVELAND, COL., US;SCHLOTZHAUER, ED O., LOVELAND, COL., US;CROOK, DAVID D., LOVELAND, COL., US
