Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Musters einer gedruckten Leiterplatte,申请号DE19916025760-传众专利搜索

发明名称	Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Musters einer gedruckten Leiterplatte
摘要
申请公布号	DE69125760(D1)	申请公布日期	1997.05.28
申请号	DE19916025760	申请日期	1991.07.03
申请人	DAINIPPON SCREEN MFG. CO., LTD., KYOTO, JP	发明人	KITAKADO, RYUJI, C/O DAINIPPON SCREEN MFG.CO., LTD, HORIKAWA-DORI, KAMIKYO-KU, KYOTO, JP;YANO, HIRONOBU, C/O DAINIPPON SCREEN MFG.CO., LTD, HORIKAWA-DORI, KAMIKYO-KU, KYOTO, JP;HOKI, TETSUO, C/O DAINIPPON SCREEN MFG.CO., LTD, HORIKAWA-DORI, KAMIKYO-KU, KYOTO, JP
分类号	G01B11/24;G01B11/245;G01N21/88;G01N21/93;G01N21/956;G01R31/308;G06T1/00;G06T7/00;H05K3/00;(IPC1-7):G01R31/308	主分类号	G01B11/24
代理机构		代理人
主权项
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