发明名称 Method and device for testing an electric conductor arrangement
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Prüfung einer elektrischen Leiteranordnung mit einer Vielzahl von Netzen, das in einen ersten Meßvorgang und in weitere Meßvorgänge unterteilt ist, wobei bei jedem Meßvorgang eine Leiteranordnung geprüft wird, und beim ersten Meßvorgang eine Feldmessung zur Ermittlung von Kurzschlüssen zwischen den einzelnen Netzen und eine Widerstandsmessung zur Ermittlung von Unterbrechungen in den Netzen ausgeführt werden, und aus den sich bei der Feldmessung ergebenden Datensätzen komplexe Leitwerte zwischen zumindest einer bei der Feldmessung verwendeten Antenne (Ai) und den gemessenen Netzen (Nk) bestimmt werden, die als Referenzleitwerte für die weiteren Meßvorgänge verwendet werden. Bei den weiteren Meßvorgängen werden Kurzschlüsse zwischen den Netzen und/oder Unterbrechungen in den Netzen durch Messen eines komplexen Ist-Leitwerts zwischen jedem Netz und der zumindest einen Antenne und einem Vergleich des Ist-Leitwertes mit dem Referenzleitwert ermittelt. Ferner betrifft die Erfindung eine Vorrichtung zum Ausführen des Verfahrens. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP0772054(A2) 申请公布日期 1997.05.07
申请号 EP19960117642 申请日期 1996.11.04
申请人 ATG TEST SYSTEMS GMBH 发明人 IANENKO, EVGUENI;BIEBER, PETER;ROTHAUG, UWE
分类号 G01R31/02;G01R27/02;G01R31/28;G01R31/312;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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