探测短暂受激发光的方法

摘要

本发明涉及一种利用平面介电光学传感器平台测定发光的方法，该平台由其上施加了一层透明波导层(b)的透明基底(a)组成，传感器平台设有一个耦合光栅，用于激励光的输入耦合，所述基底(a)的折射率低于波导层(b)的折射率，使液体样品作为上层与层(b)相接触，用光电方法测量样品中具有发光特性的物质产生的发光，或固定在层(b)上具有发光特性的物质产生的发光。本发明还涉及本方法在定量亲和性测试中的应用，以及将其使用于定量测定光学混浊液中发光成分，以及实施所述方法用的传感器平台。

主权项

1.一种利用平面介电光学传感器平台测定发光的方法，该平台由其上涂敷一薄层透明波导层(b)的透明基底(a)组成，传感器平台设有一个耦合光栅，用于激励光的输入耦合，所述基底(a)的折射率低于波导层(b)的折射率，使液体样品作为上层与层(b)相接触，用光电方法测量样品中具有发光特性的物质所产生的发光，或固定在层(b)上的具有发光特性的物质所产生的发光，用耦合光栅将激励光耦合到平面波导内，使光渡越波导层，于是，使具有发光性质的物质受到激励，在波导层的短暂场内产生发光，该方法包括利用厚度小于激励辐射波长λ的波导层，该波导层由在激励辐射波长时的其折射率≥1.8的材料组成，并用与第一耦合光栅空间上分开的第二耦合光栅从波导层耦合出，并探测反向耦合到波导层(b)内的发光辐射。