Test means for printed circuits and/or flat assemblies

摘要

Es wird eine Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen für elektrische Schaltungen angegeben, bei welcher in einem Gehäuse (1) mindestens eine mit Kontaktnadeln (4) unterschiedlicher Länge bestückte Trägerplatte (3) angeordnet ist. In einer oberhalb der Trägerplatte (3) liegenden Deckplatte (7) ist mindestens eine Aufnahme (10) für einen als Leiterkarte oder Flachbaugruppe ausgebildeten Prüfling angebracht. Es ist außerdem eine Einheit (16) zur Erzeugung von Unterdruck zum Heranziehen des Prüflings an die Kontaktnadeln (4) vorgesehen. Zur Durchführung von Incircuit-Test und Funktionstest ist an der Unterseite der die Aufnahme (10) für den Prüfling tragenden Deckplatte (7) ein quer zur Bewegungsrichtung des Prüflings zwischen zwei Endstellungen bewegbarer, mit auf einer Seite rechtwinklig abstehenden Distanzstücken (15) ausgerüsteter Schieber (12) angebracht. Durch den Schieber (12) ist der Weg des durch Erzeugung des Unterdrucks aus seiner Ruhestellung bewegten Prüflings nach Maßgabe der unterschiedlichen Länge der Kontaktnadeln (4) in zwei unterschiedlichen Ebenen begrenzbar.