发明名称 Method and device for measuring the distance between a gauge and a measuring surface
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Messung von Abständen und zwar insbesondere ein Rastertunnelmikroskop sowie ein zugehöriges Meßverfahren. Die Vorrichtung weist eine Meßsonde (6) und eine Probenhalterung für eine Probe (5) auf. Die Meßsonde (6) ist relativ zur Oberfläche einer in der Halterung befindlichen Probe in einer xy-Ebene zweidimensional bewegbar. Die Meßsonde wird durch entsprechende Mittel während der Relativbewegung zunächst vertikal zur zweidimensionalen Relativbewegung gemäß eines KorrekturwertesΔz(x,y) verfahren.Δz(x,y) ist die durch Schieflage der xy-Ebene zur Probenoberfläche bedingte Abstandsveränderung. Eine Reglereinrichtung (7) ist vorgesehen, mittels der die Meßsonde anschließend derart vertikal zur zweidimensionalen Relativbewegung verfahren wird, daß der Abstand zwischen Sonde und Oberfläche der Probe an den Meßorten konstant ist. Ferner sind Mittel (8) vorhanden, die das Reglersignal zur Erreichung des konstanten Abstandes als Maß für den zu messenden Abstand ermitteln. Erfindungsgemäß können aufwendige Reglereinrichtung vermieden werden, da nur noch mikroskopisch kleine Abstandsveränderungen mittels Regler ausgeglichen werden müssen <IMAGE></p>
申请公布号 EP0770847(A2) 申请公布日期 1997.05.02
申请号 EP19960116222 申请日期 1996.10.10
申请人 FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH 发明人 TESKE, MARTIN;HUERTTLEN, WERNER
分类号 G01B7/02;G01B7/34;G01B21/30;G01Q10/06;G01Q30/04;(IPC1-7):G01B7/34 主分类号 G01B7/02
代理机构 代理人
主权项
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