发明名称 Mehrfach-Halbleitertestsystem
摘要
申请公布号 DE19680091(T1) 申请公布日期 1997.04.24
申请号 DE19961080091T 申请日期 1996.01.23
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 HIRATA, KAZUNARI, SAITAMA, JP
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G01R31/319;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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