发明名称 半导体集成电路中调整电路元件值的电路和方法
摘要 在半导体集成电路中,内部无源电路元件值,例如电阻值,通过响应相应的输入信号而选择性地熔断一个或者多个熔丝而永久性地构造成为所期望的值。内部监视电路确定是否所有需要的熔断操作已经成功地被完成了。如果如此,将永久性地禁止任何进一步的熔断操作。该电路具有排除调整电路元件的外部测量的优点并进一步地排除施加锁定输入信号以禁止进一步熔断操作的必要。因此,测试被简化和外部引脚数被减少了。
申请公布号 CN1147696A 申请公布日期 1997.04.16
申请号 CN96111021.X 申请日期 1996.06.26
申请人 三星电子株式会社 发明人 李廷仁;金亮均
分类号 H01L27/00 主分类号 H01L27/00
代理机构 柳沈知识产权律师事务所 代理人 马莹
主权项 1、在半导体集成电路中调整电路元件值为在该类型电路的X和Y端之间所确定的特定值的电路,其中,使用当熔断电流通过它们时永久性地熔断的多个熔丝来调整电路元件值,该电路包括:输入装置,用于接收表明所期望电路元件值的多个输入信号(An);多个熔断控制电路(100),每一个熔断控制电路包括熔丝(130),和响应从相应的一个输入信号导出的熔断控制输入信号(140)而熔断熔断装置(110)为非导通状态的装置;和每一个熔断每控制电路(100)提供相应的开关控制信号(B1)和表明相应的熔丝是否已经被熔断的监视器信号(M1);响应开关控制信号调整在X和Y端之间的电路元件值的装置(500)和监视装置,用于监视监视器信号(Mn)和提供表明由输入信号(An)表示的所有熔丝是否已经被熔断的监视器输出逻辑信号(MONB)。
地址 韩国京畿道