Verfahren und Gerät zur Hintergrundkorrektur bei der Analyse einer Probenoberfläche,申请号DE19916023166T-传众专利搜索

发明名称	Verfahren und Gerät zur Hintergrundkorrektur bei der Analyse einer Probenoberfläche
摘要
申请公布号	DE69123166(T2)	申请公布日期	1997.04.10
申请号	DE19916023166T	申请日期	1991.04.12
申请人	SHIMADZU CORP., KYOTO, JP	发明人	KOMI, HIDETO, MUKOUSHI, KYOTO 617, JP
分类号	G01N23/22;G01N23/225;G01Q30/02;G01Q30/04;H01J37/256;(IPC1-7):G01N23/225	主分类号	G01N23/22
代理机构		代理人
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