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发明名称 Einrichtung zur Mustererkennung unter Anwendung von durch Zustandsmodelle bestimmten Bezugsmustern
摘要
申请公布号 DE69029425(T2) 申请公布日期 1997.04.03
申请号 DE19906029425T 申请日期 1990.05.09
申请人 NEC CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 ISO, KEN-ICHI, MINATO-KU, TOKYO, JP
分类号 G10L11/00;G06N3/04;G06T7/00;G10L15/06;G10L15/08;G10L15/10;G10L15/12;G10L15/16;(IPC1-7):G10L9/00;G10L5/06 主分类号 G10L11/00
代理机构 代理人
主权项
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