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发明名称 Inspection method of inclination of an IC-package
摘要
申请公布号 EP0577080(B1) 申请公布日期 1997.04.02
申请号 EP19930110372 申请日期 1993.06.29
申请人 YOZAN INC. 发明人 MATSUMOTO, KOJI
分类号 G01B11/26;G06T1/00;G06T7/60;H01L21/52;H01L21/68;H05K13/08;(IPC1-7):H05K13/08;H01L21/00 主分类号 G01B11/26
代理机构 代理人
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