| 发明名称 |
TEST PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0982100(A) |
申请公布日期 |
1997.03.28 |
| 申请号 |
JP19950262219 |
申请日期 |
1995.09.14 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP |
发明人 |
INAGAKI TORU;OSHIMA HIROMI |
| 分类号 |
G01R31/3183;G11C29/00;G11C29/10;(IPC1-7):G11C29/00;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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