发明名称 OPTICAL CHARACTERISTIC EVALUATING METHOD FOR THIN FILM SEMICONDUCTOR BY PHOTOTHERMAL POLARIZED SPECTROMETRIC METHOD
摘要
申请公布号 JPH0982767(A) 申请公布日期 1997.03.28
申请号 JP19950236411 申请日期 1995.09.14
申请人 FUJI ELECTRIC CO LTD 发明人 SASAKI TOSHIAKI
分类号 G01N21/88;G01N21/956;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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