| 发明名称 |
TEST CIRCUIT IN CLOCK SYNCHRONOUS SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR970004078(B1) |
申请公布日期 |
1997.03.24 |
| 申请号 |
KR19940011443 |
申请日期 |
1994.05.25 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC KK. |
发明人 |
SAWADA, SEIJI;GONISHI, YASUHIRO |
| 分类号 |
G11C11/401;G11C11/407;G11C11/409;G11C29/00;G11C29/26;G11C29/34;G11C29/40;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C11/401 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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