| 摘要 |
L'invention concerne un procédé d'exploitation d'un signal, ou d'un ensemble de données représentatives de l'évolution temporelle d'un signal, fourni par un détecteur (52) à semi-conducteur, en réponse à l'interaction d'un photon gamma avec le matériau semi-conducteur, dans lequel est produit un signal représentatif, ou une donnée représentative, du temps de montée de la composante électronique du signal fourni par le détecteur. La charge totale détectée peut également être mesurée. Des courbes de corrélation charge-temps de montée sont établies.<BR/>L'invention concerne également un dispositif pour mettre en oeuvre ce procédé.
|
