| 发明名称 |
Einrichtung zum unmittelbaren Erfassen einer abnormen Spannung in einem Mikrocontroller |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE29700679(U1) |
申请公布日期 |
1997.03.20 |
| 申请号 |
DE19972000679U |
申请日期 |
1997.01.14 |
| 申请人 |
HOLTEK MICROELECTRONICS INC., HSINCHU, TW |
发明人 |
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| 分类号 |
G01R19/165;G06F1/28;G06F1/30;(IPC1-7):G06F1/30 |
主分类号 |
G01R19/165 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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