| 发明名称 |
EXAMINATION OF SPECIMEN BY AUTOMATIC ANALYSER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0972916(A) |
申请公布日期 |
1997.03.18 |
| 申请号 |
JP19950227976 |
申请日期 |
1995.09.05 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
IMAI KYOKO;SHINDO ISAO;SHIRAISHI KAHEI |
| 分类号 |
G01N35/00;G01N35/02;(IPC1-7):G01N35/02 |
主分类号 |
G01N35/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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